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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本bluevision鹵素燈光源檢測異物污染劃痕 BVM1022D/BVM1021D 可變波長光源是一種以鹵素燈為主光源，通過選擇輸出波長即可發(fā)光的新型光源。本產(chǎn)品使用LVF（線性可變?yōu)V光片）進行波長選擇。
2024-10-12
經(jīng)銷商
208
山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
經(jīng)銷商
1136
YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
經(jīng)銷商
374
YAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強度檢查燈進口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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405
日本進口yamada鹵素燈光源裝置精密檢測 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-10-11
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343
日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-10-11
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500
山田光學yamada半導體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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679
YAMADA山田光學鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-10-11
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537
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